15.09.2021 – Kategorie: Komponenten & Systeme

Aerotech und Peak Metrology kooperieren in der Messtechnik

Quelle: Aerotech
Aerotech hat mit Peak Metrology ein neues Tochterunternehmen gegründet. Ziel ist es, sämtliche Aktivitäten rund um die Hochpräzisions-Messtechnik zu bündeln.

Unter der Leitung von RJ Hardt, einem langjährigen Aerotech-Ingenieur, greift Peak Metrology auf das Know-how von Aerotech im Bereich Messtechnik und Positioniersysteme zurück, konzentriert sich aber ausschließlich auf die Unterstützung der Industriekunden bei Lösungen für die Oberflächenmesstechnik bis hin zur kompletten Integration. Erste Exponate aus der Kooperation mit Messtechnikspezialist Keyence sind auf der Control 2022 vom 5. bis 6. Mai in Stuttgart zu sehen, unter anderem die Integration von 3D-Lasermikroskopen und Aerotech-Positioniersystem.

Kunden profitieren von technologischen Ressourcen

Die Kunden beider Unternehmen sollen von den technologischen und finanziellen Ressourcen sowie wettbewerbsfähigen Preisen und Lieferzeiten profitieren. Dabei bietet Peak Metrology mit Sitz in der Aerotech-Zentrale in Pittsburgh Dienstleistungen in den Bereichen Produktentwicklung, Engineering, Installation wie auch Schulung an.

„Industriekunden, die nicht auf Oberflächenmesstechnik spezialisiert sind, passen perfekt zu uns“, erklärt RJ Hardt, Präsident von Peak Metrology. Obwohl viele Aerotech-Kunden seit langem mit Bewegungssteuerungs- und Automatisierungsgeräten arbeiten, haben sie immer noch Schwierigkeiten, eine Komplettlösung zu implementieren, die die anderen Komponenten eines Messwerkzeugs kombiniert. Die eigentliche Belastung besteht darin, die Automatisierungssteuerung mit der Messtechnik und der unterstützenden Benutzeroberflächensoftware zu überschneiden und zu einer Gesamtlösung abzurunden.

Breites Produktspektrum bis zur schlüsselfertigen Maschine

Für Anwendungen in der Oberflächenmesstechnik bietet Peak Metrology ein breites Produktspektrum an bis zur schlüsselfertigen Maschine. Häufig wird die Oberflächenanalyse als Qualitätssicherungsprozess unmittelbar in die Produktionskette integriert, bei der Halbleiterherstellung beispielsweise bei der Wafer-Inspektion oder bei der Herstellung von Flachbildschirmen (Flat Panels). Hier wird nach fast jedem Prozessschritt die Qualität beurteilt, wofür in der Regel eine vollautomatisierte Inprozess-Prüfung mit Objektzuführung, Vermessung und anschließender Weiterverarbeitung angestoßen wird. Dabei kommt es wesentlich darauf an, dass Mess- und Positionierzyklen exakt synchronisiert werden. Anwender profitieren unter anderem von leistungsfähigen Linear- und Rotationstischen sowie Steuerungen mit positionssynchronem Trigger des Sensors.

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